Основы сканирующей зондовой микроскопии

Автор(ы)

Миронов В. Л

Год

2004

Язык

rus

Теги

физика

Аннотация

Основы сканирующей зондовой микроскопии Год выпуска : 2004 Автор : Миронов В. Л. Издательство : РАН, Институт физики микроструктур ISBN : отсутствует Язык : Русский Формат : PDF Качество : eBook (изначально компьютерное) Количество страниц : 114 Описание : Книга представляет собой учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений, посвященное одному из самых современных методов исследования поверхности твердого тела – сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ), магнитно-силовая микроскопия (МСМ), ближнепольная оптическая микроскопия (БОМ). Примеры страниц Опубликовано группой