Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy. Probing the traps in field-effect transistors

Автор(ы)
Im S, Chang Y.-G, Kim J
Год
2013
Серия
SpringerBriefs in Physics
ISBN
978-94-007-6391-3
Теги
Электроника
Как сослаться (ГОСТ Р 7.0.5-2008)
В списке литературы
Im S., Chang Y.-G, Kim J. Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy. Probing the traps in field-effect transistors. — 2013.
В тексте
(Im S., Chang Y.-G, Kim J. Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy. Probing the traps in field-effect transistors. 2013)
Поиск по тексту издания
Другие тома серии «SpringerBriefs in Physics»