Физические методы исследования поверхности твердых тел

Автор(ы)
Черепин В. Т, Нефедов В.И
Год
1983
Язык
rus
Теги
Электроника Металлургия
Аннотация

Физические методы исследования поверхности твердых тел Год : 1983 Автор : Нефедов В. И., Черепин В. Т. Жанр : Спектроскопия Издательство : Наука Язык : Русский Формат : DjVu Качество : Отсканированные страницы + слой распознанного текста Интерактивное оглавление : Да Количество страниц : 295 Описание : В монографии изложены физические основы двух важнейших мето­дов исследования поверхности твердых тел — рентгеноэлектронной спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Рассмотрены области применения методов: изучение электронных поверхностных состояний, окисление металлов, сплавов, полупроводников, исследо­вание коррозии, адсорбции, катализаторов, адгезии, флотации и дру­гих характеристик и процессов, протекающих на поверхности. Для специалистов в области рентгеноэлектронной спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов, а также для ученых и произ­водственников, занимающихся исследованием поверхности. Ил. 129. Табл. 55. Библиогр. 874 назв. Примеры страниц Оглавление Доп. информация: Благодарю юзера Ivani4_91 за предоставленный файл.

Как сослаться (ГОСТ Р 7.0.5-2008)
В списке литературы
Черепин В. Т., Нефедов В. И. Физические методы исследования поверхности твердых тел. — 1983.
В тексте
(Черепин В. Т., Нефедов В. И. Физические методы исследования поверхности твердых тел. 1983)
Поиск по тексту издания