Отладка микропроцессорных систем

Автор(ы)

Уильямс Г.Б

Год

1988

Язык

rus

ISBN

5-283-02484-9

Теги

Микроконтроллеры и встраиваемые системы Программирование

Аннотация

Отладка микропроцессорных систем Год : 1988 Автор : Уильямс Г.Б. Переводчик : Григорьева В.Л. Издательство : Энергоатомиздат Язык : Русский Формат : DjVu Качество : Отсканированные страницы Количество страниц : 254 Описание : Рассмотрены практические вопросы отладки микропроцессорных систем и применяемое для этого контрольно-измерительное оборудование. Приведено описание логических и сигнатурных анализаторов. Показаны некоторые схемотехнические решения и программное обеспечение, необходимые при отладке микросистем. Для инженерно-технических работников в области вычислительной техники и автоматики, занятых проектированием, производством и эксплуатацией микросистем. Примеры страниц Оглавление Предисловие к русскому изданию........ Предисловие ..........................® Список условных обозначений 1. Введение в микропроцессорные системы..........! 1.1. Компьютер............ 1.2. Системы с шинной структурой......*3 1.3. Системы с отображением ввода-вывода на память . 16 . 1.4. Тристабильные схемы.........^ 1.5. Дешифрирование адреса ........ 20 1.6. Микроконтроллер..........28 1.7. Уровни программирования.......'30 2. Проблемы тестирования систем........36 2.1. Аппаратные средства или программное обеспечение? 37 2.2. Передачи параллельных кодов последовательно во времени.............38 2.3. Мультиплексирование шины ....... 39 2.4. Проблемы тестирования микросхем.....39 2.5. Системное ядро..........41 2.6. Тестирование ЦП..........43 2.7. Тестирование ПЗУ..........44 2.8. Тестирование ЗУПВ.........47 2.9. Тестирование ввода-вывода.......50 2.10. Некоторые общесистемные проблемы , 52 2.10.1. Блоки электропитания........52 2.10.2. Системная синхронизация ...... 56 2.10.3. Схемы сброса.........58 2.10.4. Прерывания...........61 2.10.5. Микросхемы памяти ......63 2.10.6. Затухание сигналов.......64 3. Принципы тестирования систем...........66 3.1. Программы самоконтроля.........68 3.2. Существует ли отказ в действительности? ♦ , 69 3.3. Срок службы интегральных схем.......71 3.4. Тестирование нагрузками 73 3.4.1. Механическая нагрузка........74 3.4.2. Температурная нагрузка.......74 3.4.3. Электрическая нагрузка.......75 3.5. Локализация отказов.........75 3.6. Дерево поиска неисправностей.......79 4. Применение обычных приборов........82 4.1. Мультиметры...........83 4.2, Частотомеры...........84 4.3. Осциллограф...........ь-' 4.4. Ограниченные возможности обычных приборов . . 90 5. Ручные инструментальные средства.......90 • 5.1. Логические пробники............92 5.1.1. Промышленные логические пробники ... 97 5.1.2. Использование логического пробника ... 99 • 5.2. Логические пульсаторы........Ю1 5.2.1. Использование логического пульсатора . . ЮЗ 5.3. Тестирование «стимул-реакция» с помощью пульсатора и пробника............106 5.4. Индикатор тока..........107 5.4.1. Использование индикатора тока . . ... ПО 5.4.2. Тестирование «стимул-реакция» с помощью логического пульсатора и индикатора тока . . 111 . 5.5. Логические компа