Контрольно-измерительная техника

Автор(ы)

Цербст М

Год

1989

Язык

rus

Теги

Электроника

Аннотация

Контрольно-измерительная техника Год : 1989 Автор : Цербст М. Жанр : Радиоэлектроника Издательство : М.: Энергоатомиздат ISBN : 5-283-02474-1 Язык : Русский Формат : DjVu Качество : Отсканированные страницы Количество страниц : 321 Описание : Систематизированы сведения о современных методах измерения параметров и испытаний полупроводниковых приборов, интегральных микросхем и оптоэлектронных элементов. Рассмотрены перспективные способы определения характеристик изделий электронной техники, в том числе силовых полупроводниковых приборов. Приведены схемы автоматических контрольных устройств и измерительных станций. Для инженерно-технических работников в области электронно-измерительной техники, студентов вузов и широкого круга читателей, интересующихся вопросами качества электронных приборов. Примеры страниц Содержание Предисловие к русскому изданию Предисловие Список обозначений Глава 1. Введение Глава 2. Аналоговые интегральные схемы 2.1. Данные, содержащиеся в техническом паспорте 2.2. Общие измерения 2.3. Измерения параметров типовых схем 2.4. Методы и средства контроля Глава 3. Контроль цифровых интегральных схем 3.1. Введение 3.2. Причины и модели неисправностей 3.3. Генерация тестовых воздействий 3.4. Обеспечение контролепригодности на стадии проектирования 3.5. Контроль цифровых запоминающих устройств 3.6. Контрольные автоматы Глава 4. Надежность интегральных схем 4.1. Понятие надежности и статистические способы ее описания 4.2. Механизмы отказов и их действие при нагрузке 4.3. Реальная надежность 4.4. Меры обеспечения надежности 4.5. Количественные значения надежности Глава 5. Электронно-зондовая техника для измерения потенциала интегральных схем 5.1. Введение 5.2. Качественные методы 5.3. Количественные методы 5.4. Условия измерений 5.5. Приборы 5.6. Применения Глава 6. Контроль полупроводниковых элементов с помощью тока, индуцированного электронным лучом (EBIC) 6.1. Введение 6.2. Основные положения 6.3. Условия испытаний 6.4. Применение Глава 7. Полупроводниковые элементы большой мощности 7.1. Обзор 7.2. Типовые проблемы измерительной техники для полупроводниковых элементов большой мощности 7.3. Типовые методы измерений 7.4. Описание измерительной установки Глава 8. Оптоэлектронные элементы 8.1. Введение 8.2. Светотехнические измерения 8.3. Измерения в источниках света 8.4. Измерения параметров приемников света 8.5. Измерение параметров приемопередающих устройств Список литературы Дополнительный список литературы