Микроскопические методы исследования материалов
- Автор(ы)
- Кларк Э.Р, Эберхардт К.Н
- Год
- 2007
- Издательство
- Техносфера
- Серия
- Мир материалов и технологий
- Язык
- rus
- Теги
- Физика
Аннотация
Микроскопические методы исследования материалов Год издания : 2007 Автор : Колин Эберхардт, Эшли Кларк Переводчик : С. Л. Баженов Жанр или тематика : материаловедение Издательство : Техносфера ISBN : 978-5-94836-121-5 Серия : Мир материалов и технологий Язык : Русский Формат : PDF Качество : Издательский макет или текст (eBook) Интерактивное оглавление : Нет Количество страниц : 376 Описание : За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам. Примеры страниц
Как сослаться (ГОСТ Р 7.0.5-2008)
- В списке литературы
- Кларк Э. Р., Эберхардт К. Н. Микроскопические методы исследования материалов. — [Б. м.] : Техносфера, 2007.
- В тексте
- (Кларк Э. Р., Эберхардт К. Н. Микроскопические методы исследования материалов. [Б. м.] : Техносфера, 2007)